关于原子力显微镜（AFM）样机试用的通知

各有关单位、研究组：

公共实验中心（先进制造平台）将于近期开展高分辨率原子力显微镜（AFM）ABN-AFM-001的样机试用活动。该设备具备亚纳米级的空间分辨率，是开展材料微观形貌分析、生物分子结构研究及半导体工艺检测的重要利器。欢迎广大师生积极参与试用与交流。

具体安排及仪器介绍如下：

一、 仪器简介

原子力显微镜（Atomic Force Microscopy, AFM）ABN-AFM-001利用探针与样品表面原子间的相互作用力成像。本次试用的样机具备大视野无色差导航与高精度扫描系统，支持在大气环境下对各类硬质材料、软物质及生物样品进行纳米级形貌表征和物理特性测量。

二、 核心性能特点

1. 超高空间分辨率

o Z轴分辨率 ≤ 0.1nm：实现亚纳米级纵向精度，可清晰显现原子级台阶与分子细节。

o X-Y轴分辨率 ≤ 1nm：确保面扫描的高保真度。

2. 大范围与快速扫描能力

o 扫描范围达 70μm × 70μm，配合最高 10Hz 的扫描速度，兼顾了大尺寸搜寻效率与实时成像能力。

3. 多模式适应性

o 支持接触模式（Contact Mode）与轻敲模式（Tapping Mode）。

o 兼容硬度范围在 0.01N至40N 的多种探针，既能处理坚硬的半导体晶圆，也能保护脆弱的生物膜与蛋白质样品。

4. 极低噪声底噪

o 控制系统具备极高的稳定性，X-Y方向均方根（RMS）噪声 ≤0.01nm，有效保证了图像的真实性与数据采集的精准度。

5. 人性化操作与高清成像

o 配置直观的GUI控制软件，支持 512 × 512 至 2048 × 2048 像素的高清图像采集，满足高水平学术期刊投稿需求。

三、 主要应用领域

· 材料科学：研究纳米材料（如硒化钴、石墨烯）的形貌、摩擦系数、弹性模量及硬度。

· 生物与生命科学：观察DNA分子、蛋白质复合物、细胞膜表面微结构及其动态变化。

· 半导体与微纳加工：晶圆表面缺陷检测、纳米级粗糙度测量及结构分析。

· 化学与纳米技术：监测化学反应前后的表面形貌演变，分析纳米颗粒的分布与团聚状态。

· 物理研究：探测材料表面的粘弹性、导电性等纳米物理现象。

o 尺寸限制：最大 15mm × 15mm；

o 厚度限制：最大 2mm；

o 样品表面需平整，无挥发性污染。

四、活动安排：

· 理论培训

o 题目：高分辨率原子力显微镜（AFM）ABN-AFM-001

o 时间：2026年5月20日，9:30—10:30

o 地点：仁爱路校区明德楼B302会议室

· 上机培训

o 时间：2026年5月20日，10:30—12:00

o 地点：仁爱路校区明德楼C105a室

· 样机试用

o 时间：2026年5月21日—7月20日

o 地点：仁爱路校区明德楼C105a室

o 预约联系人：徐蔚老师（13024526576）

欢迎各位师生积极参与试用，并提前预约！

样机培训申请链接：https://v.wjx.cn/vm/hEoMCxL.aspx#  

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