各有关单位、研究组:
公共实验中心先进制造平台托管的半导体分析仪(KEITHLEY/4200A)拟于2026年6月25日(周四)开展应用技术培训。该设备具备
亚飞安级的电流分辨率,配有CV测试以及先进的脉冲发生采样测试 ,是开展各类半导体器件、非易失性存储器、纳米器件、电阻
率系数、光电器件、MEMS器件、太阳能电池 、AI芯片 、铁电材料等等电学特性参数测试研究的重要利器,欢迎广大师生积极参
与培训与交流,具体安排及仪器介绍如下:

设备主要功能:
1)IV特性分析:各类器件芯片的直流特性,分辨率0.1fA;
2)CV特性分析:C-V测试,C-F测试,电容测试分辨率1pF;
3)快速脉冲测试PIV:高速电流采样测试主要应用于忆阻器测试,各类存储器测试,铁电材料测试,光电器件测试。
设备主要参数:
1)最大直流电压:200V;
2)最大直流电流:100mA;
3)最大输出功电容电压:正负30V;
4)最大脉冲电压:10V;
5)最快脉冲电流采样率:20ns;
6)最低脉冲采样电流:1nA;
7)最小脉冲电压设置:10ns。
为规范设备管理,提升操作人员专业技能,确保设备安全和高效运行,先进制造平台邀请半导体分析仪厂家工程师来院开展“半导体
分析仪”专题培训。相关事项通知如下:
一、培训对象
各有关单位、研究组需用到该设备的科研老师和同学。提醒:为提高培训效果及因培训空间有限,各课题组请安排1人参加本次培训,
后续还会组织相关培训。
二、培训内容
1)理论培训:半导体分析仪工作原理、功能、基本构造、应用和日常维护介绍。
2)上机培训:半导体分析仪操作及功能应用演示。
三、时间及地点
1)时间:2026年6月25日(周四);09:30-11:30(理论);14:00-15:30(操作演示)
2)地点:仁爱路166号明德楼B302(理论);明德楼C105a(操作演示)
四、报名渠道
请参加培训人员扫描以下二维码/或链接(https://v.wjx.cn/vm/tK5hOqL.aspx);报名后如期参加培训,并进行现场签到 ;其他问
题可联系公共实验中心徐老师(130 2452 6576 手机/微信)。截止报名时间:2026年06月24日12:00

中国科大苏州高等研究院公共实验中心
2026年6月16日