关于举办半导体分析仪厂家应用培训的通知

关于举办“半导体分析仪（KEITHLEY/4200A）”厂家应用培训的通知

各有关单位、研究组：

公共实验中心先进制造平台托管的半导体分析仪(KEITHLEY/4200A)拟于2026年9月15日（周二）开展应用技术培训，欢迎广大师生积极参与培训与交流。具体安排及仪器介绍如下：

设备简介：该设备为高性能集成式半导体参数分析设备，具备亚飞安级的电流分辨率，可完成I-V、C-V以及超快脉冲I-V测试，配套Clarius可视化测试软件，内置450种成熟测试方案，可提取阈值电压、迁移率、氧化层厚度、掺杂浓度、器件可靠性、迟滞特性、电阻率等性能参数，是开展各类半导体器件、非易失性存储器、纳米器件、光电器件、MEMS器件、太阳能电池、AI芯片、铁电材料、薄膜材料等电学特性参数测试研究的重要利器。

设备主要功能：1）I-V特性分析：各类器件芯片的直流特性，分辨率0.1fA；2）C-V特性分析‌：C-V测试，C-F测试，电容测试分辨率1pF；3）快速脉冲I-V‌测试：高速电流采样测试主要应用于忆阻器测试，各类存储器测试，铁电材料测试，光电器件测试。

设备主要参数：1）最大直流电压：200V；2）最大直流电流：100mA；3）最大输出功电容电压：正负30V；4）最大脉冲电压：10V；5）最快脉冲电流采样率：20ns；6）最低脉冲采样电流：1nA；7）最小脉冲电压设置：10ns。

为规范设备管理，提升操作人员专业技能，确保设备安全和高效运行，先进制造平台邀请半导体分析仪厂家工程师来院开展“半导体分析仪”专题培训。相关事项通知如下：

一、培训对象

各有关单位、研究组需用到该设备的科研老师和同学。

二、培训内容

1) 理论培训：半导体分析仪工作原理、功能、基本构造、应用和日常维护介绍。

2) 上机培训：半导体分析仪操作及功能应用演示。

三、时间及地点

1) 时间：2026年9月15日；09:30-11:30（理论）；14:00-15:30（操作演示）

2) 地点：仁爱路166号亲民楼312（理论）；明德楼C105a（操作演示）

四、报名渠道

请参加培训人员扫描以下二维码/或链接（https://v.wjx.cn/vm/P5GyXNz.aspx）；报名后如期参加培训，并进行现场签到；其他问题可联系公共实验中心李老师（158 5067 8613 手机/微信）。

截止报名时间：2026年09月14日12:00

   中国科大苏州高等研究院公共实验中心

        2026年9月1日